Trafiksimulering med VISSIM: En analyse af programmets grundlæggende adfærdsparametre samt bestemmelse og test af adfærdsparametre under danske forhold

Dette paper er baseret på et afgangsprojekt udarbejdet i foråret 2009 som endel af civilingeniøruddannelsen indenfor Vej- og Trafikteknik på Aalborg Universitet. Afgangsprojektet, har til formål at teste og kalibrere simuleringsprogrammet VISSIM til danske forhold. Den første del af rapporten omhandler en statistisk og virkelig sammenligning af den tyske og danske trafikantadfærd. Gennem markundersøgelser i Nordjylland er der indsamlet data, som herefter analyseres og testes i VISSIM. Resultaterne af disse tests viser, at der overvejende er forskel på anvendelsen af tysk og dansk trafikantadfærd ved frit flow, mens at rejsetiden gennem virkelige modeller i flere tilfælde ikke forøges betydeligt. Den anden del af rapporten behandler kalibreringen af en flettestrækning, som går fra tre til to spor på en nordjysk motorvej. Gennem indsamling af data på motorvejen nord for Limfjordstunnellen i Aalborg er der opstillet grafer over hastighed og trafikmængder, som benyttes i kalibreringsprocessen. Der benyttes blandt andet GPS-data, videooptagelser, hastighedsmålinger og trafiktællinger samt statistisk data til at opnå den nødvendige kalibrering. Resultaterne fra kalibreringen viser, at det er muligt at opnå en korrekt trafikafvikling ved at hæve aggressiviteten for bilisterne. Derudover viser det sig, at VISSIM ikke kan afbilde trafikafvikling i en spidstime uden intelligent farttilpasning. Det kan derfor konkluderes, at VISSIM kun kan afvikle trafikken hensigtsmæssigt, med et indgående kendskab til trafikkens variationer i den simulerede periode

Fast resolution change in neutral helium atom microscopy

In neutral helium atom microscopy, a beam of atoms is scanned across a surface. Though still in its infancy, neutral helium microscopy has seen a rapid development over the last few years. The inertness and low energy of the helium atoms (less than 0.1 eV) combined with a very large depth of field and the fact that the helium atoms do not penetrate any solid material at low energies open the possibility for a non-destructive instrument that can measure topology on the nanoscale even on fragile and insulating surfaces. The resolution is determined by the beam spot size on the sample. Fast resolution change is an attractive property of a microscope because it allows different aspects of a sample to be investigated and makes it easier to identify specific features. However up till now it has not been possible to change the resolution of a helium microscope without breaking the vacuum and changing parts of the atom source. Here we present a modified source design, which allows fast, step wise resolution change. The basic design idea is to insert a moveable holder with a series of collimating apertures in front of the source, thus changing the effective source size of the beam and thereby the spot size on the surface and thus the microscope resolution. We demonstrate a design with 3 resolution steps. The number of resolution steps can easily be extended.publishedVersio